Modern Fizik Takviyeli Malzeme Karakterizasyonu ve Temel İlkeleri başlıklı bu çalışmanın, ülkemizde bu konuda mevcut bir literatür eksikliğini gidermesi amaçlanmıştır. Eserde, optik mikroskop teknikleri, polarizasyon, X-ışınları ve elektron difraksiyonu, kristal yapısının belirlenmesi, elektron mikroskopisi ve spektroskopisi, Termal Analiz Süreçleri, FTIR (Fourier Transform Infrared Spektroskopisi), Floresan Mikroskopisi, DTEM (Dinamik Transmisyon Elektron Mikroskopisi), AFM (Atomik Kuvvet Mikroskobu) bir bütün olarak ele alınmış ve fizik problemleriyle desteklenmiştir. Sınav, ödev soruları ve cevapları da öğrencilere uygulama olması açısından ilave edilmiştir. Okuyucu, ayrıca Ek’ler kısmında ana metin ile ilgili daha karmaşık matematik çözümleri, ekstra tabloları, konularla ilgili örnekleri, buluşlara imza atmış tanınmış bilim insanlarının biyografilerini ve bilim tarihi ile ilgili makaleleri bulacaktır.

Taksit Seçenekleri

Ürün Değerlendirme ve Yorumları

Bu ürüne ilk yorumu siz yapın, her yorumunuzda İndeks Puan kazanın!

Bu ürüne yorum yapın - Sadece ürünle ilgili görüşlerinizi belirtiniz.
- Bu alandan sorulan sorulara cevap verilememektedir.
- Sorularınız için İLETİŞİM sayfamızı ziyaret edebilirsiniz.

Etiketler :

nobel yayınevi nobel akademik yayıncılık nobel akademi ziya engin erkmen malzeme karakterizasyonu

Nobel Modern Fizik Takviyeli Malzeme Karakterizasyonu ve Temel İlkeleri - Z. Engin Erkmen Nobel Akademi Yayınları

Bu ürünü tavsiye edin